WBE-KSH1000/Testkammare för snabb temperaturförändring

Provbiten kan utsättas för temperaturstresstestning (ESS), temperatur- och luftfuktighetsscreening, tillförlitlighetstestning etc. Vanliga temperaturramphastigheter är 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min och 25°C/min.

Användningsområden:

Halvledarchips, vetenskapliga forskningsinstitutioner, kvalitetskontroll, ny energi, optoelektronisk kommunikation, flyg- och militärindustri, bilindustri, LCD-skärmar, medicinsk och annan teknikindustri.

Standarder för provning:

GB/T 2423.1 Testmetod för låg temperatur, GJB 150.3 Testmetod för hög temperatur, GB/T 2423.2 Testmetod för hög temperatur, GJB 150.4 Test för låg temperatur, GB/T2423.34 Testmetod för fuktighetscykel, GJB 150.9 Testmetod för luftfuktighet, IEC60068-2 Testmetod för temperatur och luftfuktighet, MIL-STD-202G-103B Testmetod för luftfuktighet

Produktens egenskaper:

1. Produkten uppfyller både linjära och icke-linjära krav på temperaturrampning.
2. Den uppfyller kraven på temperaturramphastighet på 5 °C / min till 30 ° C / min.
3. Valfria funktioner inkluderar flytande kväve, fuktig värme och antikondens.
4. Genom att använda elektronisk expansionsventilteknik och ett innovativt styrsystem uppnår produkten energibesparingar som överstiger 45%.