Testkammare för snabb temperaturförändring (våt värme):Används för att testa produktens prestanda under snabba temperaturförändringar och extrema temperaturförhållanden. Används främst i halvledarchips, vetenskapliga forskningsinstitutioner, kvalitetskontroll, ny energi, optoelektronisk kommunikation, flyg- och militärindustri, bilindustri, LCD-skärm, medicinsk och annan teknikindustri.
Lämplig för miljöstressscreening (ESS) testning av elektroniska och elektriska produkter, samt temperaturspänningsdetektering av provbitar under snabba eller gradvisa temperaturförändringar, temperatur- och luftfuktighetsscreening, tillförlitlighetstestning, prestandatestning, vädertestning och hög- och lågtemperaturlagring. Vanliga temperaturramphastigheter inkluderar 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min och 25°C/min.
Användningsområden:
Halvledarchips, vetenskapliga forskningsinstitutioner, kvalitetskontroll, ny energi, optoelektronisk kommunikation, flyg- och militärindustri, bilindustri, LCD-skärmar, medicinsk och annan teknikindustri.
Standarder för provning:
GB/T 2423.1 Testmetod för låg temperatur, GJB 150.3 Testmetod för hög temperatur, GB/T 2423.2 Testmetod för hög temperatur, GJB 150.4 Test för låg temperatur, GB/T2423.34 Testmetod för fuktighetscykel, GJB 150.9 Testmetod för luftfuktighet, IEC60068-2 Testmetod för temperatur och luftfuktighet, MIL-STD-202G-103B Fukttest
Produktens egenskaper:
1. Produkten uppfyller både linjära och icke-linjära krav på temperaturkontroll.
2. Den uppfyller temperaturramphastigheter på 5 °C till 30 °C / min.
3. Valfria funktioner inkluderar flytande kväve, fuktig värme och antikondens.
4. Med hjälp av elektronisk expansionsventilteknik och ett innovativt styrsystem erbjuder produkten energibesparingar på över 30%.
