Produktbeskrivning:
Chocktestkammaren för höga och låga temperaturer (Split Type) har en delad design, med arbets- och arbetskamrarna i kammarsystemet utformade som oberoende moduler, vilket möjliggör anpassning. Testsystemet är uppdelat i en högtemperaturtank (förvärmningszon) och en lågtemperaturtank (förkylningszon). Snabb testning av termisk chock uppnås genom att styra den mobila korgen (placeringsområdet för testprov) för att snabbt flytta till lågtemperatur- eller högtemperaturtanken.
Tillämpning:
Halvledarchips, vetenskapliga forskningsinstitutioner, kvalitetskontroll, ny energi, optoelektronisk kommunikation, flyg- och militärindustri, bilindustri, LCD-skärmar, medicinsk och annan teknikindustri.
Teststandarder:
GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、JESD22-A106B、MIL-STD-810G、MIL-STD-202G
Produktens egenskaper:
1. Delad kroppsdesign möjliggör flexibel rörelse, obegränsad av hissar eller dörröppningar.
2. Testmetod för termisk chock med två zoner: Testexemplaret rör sig upp och ner inom korgen för termisk chocktestning, vilket minimerar värmebelastningen under termisk chock och förkortar temperaturåterhämtningstiden.
3. Kapabel till 1000 kontinuerliga termiska chockcykler utan avfrostning, den ultralåga avfrostningsfrekvensen minskar väntetiden och förbättrar testeffektiviteten avsevärt.
4. Genom att använda elektronisk expansionsventilteknik och ett innovativt styrsystem uppnår produkten energibesparingar på över 45 % och förlänger dess livslängd med över en tredjedel.
5. Den termiska chockmekanismen rör sig inom 5 sekunder och överensstämmer med MIL-, IEC- och JIS-standarderna.
6. Mycket specialiserad design möjliggör anpassning av testkammare för termisk chock med horisontell korgrörelse, trekammar (ventilation) och nedsänkningschocklägen enligt testkrav och provstorlek.
7. Kompatibel med temperaturcykling, termisk chocktestning, termisk stresstestning och prestandatestning.
